基于斜光刻技术的SU-8胶三维微阵列结构制备

李刚 李大维 赵清华 菅傲群 王开鹰 胡杰 桑胜波 程再军 孙伟

引用本文: 李刚, 李大维, 赵清华, 菅傲群, 王开鹰, 胡杰, 桑胜波, 程再军, 孙伟. 基于斜光刻技术的SU-8胶三维微阵列结构制备[J]. 分析化学, 2016, 44(4): 660-664. doi: 10.11895/j.issn.0253-3820.150967 shu
Citation:  LI Gang, LI Da-Wei, ZHAO Qing-Hua, JIAN Ao-Qun, WANG Kai-Ying, HU Jie, SANG Sheng-Bo, CHENG Zai-Jun,  Fabrication of 3D SU-8 Photoresist Microarrays via Inclined Uitraviolet Lithography[J]. Chinese Journal of Analytical Chemistry, 2016, 44(4): 660-664. doi: 10.11895/j.issn.0253-3820.150967 shu

基于斜光刻技术的SU-8胶三维微阵列结构制备

    通讯作者: 桑胜波
  • 基金项目:

    本文系国家自然科学基金(Nos.61504113,51205275) (Nos.61504113,51205275)

    人社部留学基金(No.[2014]240)山西省归国留学基金(2013-035) (No.[2014]240)山西省归国留学基金(2013-035)

    山西省人社厅留学人员择优资助(No.[2013]251)山西省科技研究基金(Nos.20141001021-2,2014011019-1) (No.[2013]251)山西省科技研究基金(Nos.20141001021-2,2014011019-1)

    国家863计划(No.2013AA041100) (No.2013AA041100)

    山西省科技重大专项(No.20121101004) (No.20121101004)

    山西省高等特色学科建设项目([2012]45)资助 ([2012]45)

摘要: 利用斜光刻技术替代传统的直光刻技术在相同底面积的基础上增大微阵列比表面积制备了高比表面积三维微阵列结构,。首先,利用MATLAB仿真对微阵列排布方式进行分析,确定最佳单个柱体宽度及阵列间距。实验中,采用两次甩胶法将SU-8光刻胶均匀旋涂在2寸硅基底上,甩胶转速设为1500 r/min,旋涂时间设为35 s;分别置于65℃烘台上保持20 min和95℃烘台上保持70 min进行两次前烘处理;随后进行双向斜曝光,微柱宽度为20μm,阵列间距为30μm,光刻角度为20°。最后,再通过高低温后烘处理并显影30 min成功制备出了结构稳定的"X"型三维微阵列结构。

English

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  • 收稿日期:  2015-12-07
  • 网络出版日期:  2016-03-05
通讯作者: 陈斌, bchen63@163.com
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    沈阳化工大学材料科学与工程学院 沈阳 110142

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