Citation: LI Ya-Dong, DENG Yu-Feng, PAN Zhi-Yi, WEI Yin-Ping, ZHAO Shi-Xi, GAN Lin. Dual Electron Energy Loss Spectrum Imaging of the Surfaces of LiNi0.5Mn1.5O4 Cathode Material[J]. Acta Physico-Chimica Sinica, 2017, 33(11): 2293-2300. doi: 10.3866/PKU.WHXB201705294
LiNi0.5Mn1.5O4正极材料表面的双电子能量损失谱谱学成像
English
Dual Electron Energy Loss Spectrum Imaging of the Surfaces of LiNi0.5Mn1.5O4 Cathode Material
-
-
[1]
(1) Yan, P.; Zheng, J.; Xiao, J.; Wang, C. M.; Zhang, J. G. Front. Energy Res. 2015, 3, 26. doi: 10.3389/fenrg.2015.00026
-
[2]
(2) Moorhead-Rosenberg, Z.; Huq, A.; Goodenough, J. B.; Manthiram, A. Chem. Mater. 2015, 27, 6934. doi: 10.1021/acs.chemmater.5b01356
-
[3]
(3) Kim, J. H.; Pieczonka, N. P. W.; Yang, L. ChemPhysChem 2014, 15, 1940. doi: 10.1002/cphc.201400052
-
[4]
(4) Wang, F.; Wu, L. J.; Ma, C.; Su, D.; Zhu, Y. M.; Graetz, J. Nanotechnology 2013, 24, 424006. doi: 10.1088/0957-4484/24/42/424006
-
[5]
(5) Kikkawa, J.; Terada, S.; Gunji, A.; Nagai, T.; Kurashima, K.; Kimoto, K. J. Phys. Chem. C 2015, 119, 15823. doi: 10.1021/acs.jpcc.5b02303
-
[6]
(6) Yan, P.; Xiao, L.; Zheng, J.; Zhou, Y.; He, Y.; Zu, X.; Mao, S. X.; Xiao, J.; Gao, F.; Zhang, J. G.; Wang, C. M. Chem. Mater. 2015, 27, 975. doi: 10.1021/cm504257m
-
[7]
(7) Yan, P. F.; Nie, A. M.; Zheng, J. M.; Zhou, Y. G.; Lu, D. P.; Zhang, X. F.; Xu, R.; Belharouak, I.; Zu, X. T.; Xiao, J.; Amine, K.; Liu, J.; Gao, F.; Shahbazian-Yassar, R.; Zhang, J. G.; Wang, C. M. Nano Lett. 2015, 15, 514. doi: 10.1021/nl5038598
-
[8]
(8) Huang, W.; Wu, C. Y.; Zeng, Y. W.; Jin, C. H.; Zhang, Z. Acta Phys. -Chim. Sin. 2016, 32, 2287. [黄威, 邬春阳, 曾跃武, 金传洪, 张泽. 物理化学学报, 2016, 32, 2287.]doi: 10.3866/PKU.WHXB201605164
-
[9]
(9) Sloop, S. E.; Kerr, J. B.; Kinoshita, K. J. Power Sources 2003, 119, 330. doi: 10.1016/S0378-7753(03)00149-6
-
[10]
(10) Kim, J. H.; Myung, S. T.; Yoon, C. S.; Kang, S. G.; Sun, Y. K. Chem. Mater. 2004, 16, 906. doi: 10.1021/cm035050s
-
[11]
(11) Park, S. H.; Oh, S. W.; Kang, S. H.; Belharouak, I.; Amine, K.; Sun, Y. K. Electrochim. Acta 2007, 52, 7226. doi: 10.1016/j.electacta.2007.05.050
-
[12]
(12) Terada, Y.; Nishiwaki, Y.; Nakai, I.; Nishikawa, F. J. Power Sources 2001, 97-8, 420. doi: 10.1016/S0378-7753(01)00741-8
-
[13]
(13) Lu, D.; Xu, M.; Zhou, L.; Garsuch, A.; Lucht, B. L. J. Electrochem. Soc. 2013, 160, A3138. doi: 10.1149/2.022305jes
-
[14]
(14) Pieczonka, N. P. W.; Liu, Z. Y.; Lu, P.; Olson, K. L.; Moote, J.; Powell, B. R.; Kim, J. H. J. Phys. Chem. C 2013, 117, 15947. doi: 10.1021/jp405158m
-
[15]
(15) Egerton, R. F., Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope. 3rd ed.; Springer Science & Business Media: NewYork, 2011; pp 152, 175–176, 202–203, 221–224.
-
[16]
(16) Reimer, L.; Rennekamp, R. Ultramicroscopy 1989, 28, 258. doi:10.1016/0304-3991(89)90305-7
-
[17]
(17) Scott, J.; Thomas, P. J.; MacKenzie, M.; McFadzean, S.; Wilbrink, J.; Craven, A. J.; Nicholson, W. A. P. Ultramicroscopy 2008, 108, 1586. doi: 10.1016/j.ultramic.2008.05.006
-
[18]
(18) Wang, F.; Egerton, R.; Malac, M. Ultramicroscopy 2009, 109, 1245. doi: 10.1016/j.ultramic.2009.05.011
-
[19]
(19) Deng, Y. F.; Zhao, S. X.; Zhai, P. Y.; Cao, G. Z.; Nan, C. W. J. Mater. Chem. A 2015, 3, 20103. doi: 10.1039/c5ta06339f
-
[20]
(20) Scofield, J. H. At. Data Nucl. Data Tables 1974, 14, 121. doi: 10.1016/S0092-640X(74)80019-7
-
[21]
(21) Chan, H. M.; Williams, D. B. Philos. Mag. B 1985, 52, 1019. doi: 10.1080/01418638508241891
-
[22]
(22) Steele, J. D.; Titchmarsh, J. M.; Chapman, J. N.; Paterson, J. H. Ultramicroscopy 1985, 17, 273. doi: 10.1016/0304-3991(85)90095-6
-
[23]
(23) Leapman, R. D.; Grunes, L. A. Phys. Rev. Lett. 1980, 45, 397. doi: 10.1103/PhysRevLett.45.397
-
[24]
(24) Riedl, T.; Gemming, T.; Wetzig, K. Ultramicroscopy 2006, 106 (4–5), 284. doi: 10.1016/j.ultramic.2005.09.002
-
[25]
(25) Schmid, H. K.; Mader, W. Micron 2006, 37 (5), 426. doi:10.1016/j.micron.2005.12.004
-
[26]
(26) Montoro, L. A.; Abbate, M.; Almeida, E. C.; Rosolen, J. M. Chem. Phys. Lett. 1999, 309 (1–2), 14. doi: 10.1016/S0009-2614(99)00650-8
-
[27]
(27) Koyama, Y.; Mizoguchi, T.; Ikeno, H.; Tanaka, I. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 10749. doi: 10.1021/jp050486b
-
[28]
(28) Mitchell, D. R.; Schaffer, B. Ultramicroscopy 2005, 103, 319. doi: 10.1016/j.ultramic.2005.02.003
-
[29]
(29) Kikkawa, J.; Terada, S.; Gunji, A.; Haruta, M.; Nagai, T.; Kurashima, K.; Kimoto, K. Appl. Phys. Lett. 2014, 104, 114105. doi: 10.1063/1.4869225
-
[30]
(30) Kikkawa, J.; Akita, T.; Tabuchi, M.; Shikano, M.; Tatsumi, K.; Kohyama, M. Electrochem. Solid-State Lett. 2008, 11, A183. doi: 10.1149/1.2968956
-
[31]
(31) Mauchamp, V.; Boucher, F.; Ouvrard, G.; Moreau, P. Phys. Rev. B 2006, 74, 115106. doi: 10.1103/PhysRevB.74.115106
-
[32]
(32) Graetz, J.; Ahn, C. C.; Yazami, R.; Fultz, B. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 2887. doi: 10.1021/jp026484y
-
[33]
(33) Rask, J. H.; Miner, B. A.; Buseck, P. R. Ultramicroscopy 1987, 21, 321. doi: 10.1016/0304-3991(87)90030-1
-
[1]
-
扫一扫看文章
计量
- PDF下载量: 3
- 文章访问数: 538
- HTML全文浏览量: 63

下载: