漆酚铝高分子修饰碳糊电极用于溶出伏安法测定痕量银

杨春海

引用本文: 杨春海. 漆酚铝高分子修饰碳糊电极用于溶出伏安法测定痕量银[J]. 应用化学, 2003, 20(6): 597-599. shu
Citation:  YANG Chun-Hai. Anodic Stripping Voltammetric Determination of Trace Silver Using Polymeric Compound of Urushiol-Al Modified Carbon Paste Electrode[J]. Chinese Journal of Applied Chemistry, 2003, 20(6): 597-599. shu

漆酚铝高分子修饰碳糊电极用于溶出伏安法测定痕量银

    通讯作者: 杨春海,男,1968年生,讲师;E-mail:yangchunhai001@163.com;研究方向:电分析化学
  • 基金项目:

    湖北省教育厅重点科研项目(2002X011) (2002X011)

摘要: 含银化合物已广泛用于各行业,环境中残存的银离子对人体健康存在着潜在的危害,因此快速、准确测定银离子具有重要的现实意义。近年来,化学修饰电极被广泛用于测定有毒的金属离子[1~3],用EDTA修饰的碳糊电极测定金属银离子已有文献报道[4],但利用漆酚铝高分子树脂修饰碳糊电极测定银离子未见报道。

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  • 收稿日期:  2002-12-04
  • 网络出版日期:  2003-03-24
通讯作者: 陈斌, bchen63@163.com
  • 1. 

    沈阳化工大学材料科学与工程学院 沈阳 110142

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