金属衬底上石墨烯的控制生长和微观形貌的STM表征

张艳锋 高腾 张玉 刘忠范

引用本文: 张艳锋, 高腾, 张玉, 刘忠范. 金属衬底上石墨烯的控制生长和微观形貌的STM表征[J]. 物理化学学报, 2012, 28(10): 2456-2464. doi: 10.3866/PKU.WHXB201209062 shu
Citation:  ZHANG Yan-Feng, GAO Teng, LIU Zhong-Fan. Controlled Growth of Graphene on Metal Substrates and STM Characterizations for Microscopic Morphologies[J]. Acta Physico-Chimica Sinica, 2012, 28(10): 2456-2464. doi: 10.3866/PKU.WHXB201209062 shu

金属衬底上石墨烯的控制生长和微观形貌的STM表征

  • 基金项目:

    国家自然科学基金资助课题(21073003) (21073003)

    国家重大研究计划量子调控项目的资助(2011CB921903, 2011CB933003, 2012CB921404). (2011CB921903, 2011CB933003, 2012CB921404)

摘要:

目前化学气相沉积(CVD)方法在不同的金属基底上大规模生长获得石墨烯得到了广泛的应用; 同时扫描隧道显微镜(STM)做为一种强大的精细直观的研究手段可以用于表征金属衬底上石墨烯的微观形貌, 指导石墨烯的控制生长. 本文侧重于Cu箔、Pt 箔和Ni 衬底上石墨烯的控制生长、表面微观形貌、表面缺陷态、堆垛形式的阐述, 得到结论: (1) 两种溶碳量较低的金属(Cu, Pt)上, 石墨烯的生长都符合表面催化的生长机制, 同时层间的范德华相互作用也可以诱导双层石墨烯的生长; (2) 衬底粗糙度的增加可以使石墨烯的电子态去简并化, 从而破坏石墨烯面内π键共轭结构, 导致部分碳原子转变为sp3杂化; (3) 原生的褶皱是由于界面热膨胀系数失配所导致; (4) Pt 箔表面石墨烯的平整度要远优于Cu箔表面的石墨烯, 且不同晶面共存的基底对于石墨烯的连续性并没有产生显著的影响.

English

    1. [1]

      (1) Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.;Zhang, Y.; Dubonos, S. V.; Gri rieva, I. V.; Firsov, A. A.Science 2004, 306, 666. doi: 10.1126/science.1102896

      (1) Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.;Zhang, Y.; Dubonos, S. V.; Gri rieva, I. V.; Firsov, A. A.Science 2004, 306, 666. doi: 10.1126/science.1102896

    2. [2]

      (2) Bolotin, K. I.; Sikes, K. J.; Zhang, Z.; Klima, M.; Fudenberg,G.; Hone, J.; Kim, P.; Stormer, H. L. Solid State Commun. 2008,146, 351. doi: 10.1016/j.ssc.2008.02.024(2) Bolotin, K. I.; Sikes, K. J.; Zhang, Z.; Klima, M.; Fudenberg,G.; Hone, J.; Kim, P.; Stormer, H. L. Solid State Commun. 2008,146, 351. doi: 10.1016/j.ssc.2008.02.024

    3. [3]

      (3) Schwierz, F. Nat. Nanotech. 2010, 5, 487. doi: 10.1038/nnano.2010.89(3) Schwierz, F. Nat. Nanotech. 2010, 5, 487. doi: 10.1038/nnano.2010.89

    4. [4]

      (4) Lin, Y. M.; Dimitrakopoulos, C.; Jenkins, K. A.; Farmer, D. B.;Chiu, H. Y.; Grill, A.; Avouris, P. Science 2012, 327, 662.(4) Lin, Y. M.; Dimitrakopoulos, C.; Jenkins, K. A.; Farmer, D. B.;Chiu, H. Y.; Grill, A.; Avouris, P. Science 2012, 327, 662.

    5. [5]

      (5) Stankovich, S.; Dikin, D. A.; Dommett, G. H. B.; Kohlhaas, K.M.; Zimney, E. J.; Stach, E. A.; Piner, R. D.; Nguyen, S. T.;Ruoff, R. S. Nature 2006, 442, 282. doi: 10.1038/nature04969(5) Stankovich, S.; Dikin, D. A.; Dommett, G. H. B.; Kohlhaas, K.M.; Zimney, E. J.; Stach, E. A.; Piner, R. D.; Nguyen, S. T.;Ruoff, R. S. Nature 2006, 442, 282. doi: 10.1038/nature04969

    6. [6]

      (6) Li, X. L.; Zhang, G. Y.; Bai, X. D.; Sun, X. M.;Wang, X. R.;Wang, E. G.; Dai, H. J. Nat. Nanotech. 2008, 3, 538. doi: 10.1038/nnano.2008.210(6) Li, X. L.; Zhang, G. Y.; Bai, X. D.; Sun, X. M.;Wang, X. R.;Wang, E. G.; Dai, H. J. Nat. Nanotech. 2008, 3, 538. doi: 10.1038/nnano.2008.210

    7. [7]

      (7) Berger, C.; Song, Z. M.; Li, T. B.; Li, X. B.; Ogbazghi, A. Y.;Feng, R.; Dai, Z. T.; Marchenkov, A. N.; Conrad, E. H.; First, P.N.; de Heer,W. A. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 19912. doi: 10.1021/jp040650f(7) Berger, C.; Song, Z. M.; Li, T. B.; Li, X. B.; Ogbazghi, A. Y.;Feng, R.; Dai, Z. T.; Marchenkov, A. N.; Conrad, E. H.; First, P.N.; de Heer,W. A. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 19912. doi: 10.1021/jp040650f

    8. [8]

      (8) Sutter, P.W.; Flege, J. I.; Sutter, E. A. Nat. Mater. 2008, 7, 406.doi: 10.1038/nmat2166(8) Sutter, P.W.; Flege, J. I.; Sutter, E. A. Nat. Mater. 2008, 7, 406.doi: 10.1038/nmat2166

    9. [9]

      (9) Reina, A.; Jia, X. T.; Ho, J.; Nezich, D.; Son, H.; Bulovic, V.;Dresselhaus, M. S.; Kong, J. Nano Lett. 2009, 9, 30. doi: 10.1021/nl801827v(9) Reina, A.; Jia, X. T.; Ho, J.; Nezich, D.; Son, H.; Bulovic, V.;Dresselhaus, M. S.; Kong, J. Nano Lett. 2009, 9, 30. doi: 10.1021/nl801827v

    10. [10]

      (10) Li, X. S.; Cai,W.W.; An, J. H.; Kim, S.; Nah, J.; Yang, D. X.;Piner, R.; Velamakanni, A.; Jung, I.; Tutuc, E.; Banerjee, S. K.;Colombo, L.; Ruoff, R. S. Science 2009, 324, 1312. doi: 10.1126/science.1171245(10) Li, X. S.; Cai,W.W.; An, J. H.; Kim, S.; Nah, J.; Yang, D. X.;Piner, R.; Velamakanni, A.; Jung, I.; Tutuc, E.; Banerjee, S. K.;Colombo, L.; Ruoff, R. S. Science 2009, 324, 1312. doi: 10.1126/science.1171245

    11. [11]

      (11) Li, X. S.; Zhu, Y.W.; Cai,W.W.; Borysiak, M.; Han, B. Y.;Chen, D.; Piner, R. D.; Colombo, L.; Ruoff, R. S. Nano Lett.2009, 9, 4359. doi: 10.1021/nl902623y(11) Li, X. S.; Zhu, Y.W.; Cai,W.W.; Borysiak, M.; Han, B. Y.;Chen, D.; Piner, R. D.; Colombo, L.; Ruoff, R. S. Nano Lett.2009, 9, 4359. doi: 10.1021/nl902623y

    12. [12]

      (12) Gao, L.; Guest, J. R.; Guisinger, N. P. Nano Lett. 2010, 10,3512. doi: 10.1021/nl1016706(12) Gao, L.; Guest, J. R.; Guisinger, N. P. Nano Lett. 2010, 10,3512. doi: 10.1021/nl1016706

    13. [13]

      (13) Pan, Y.; Zhang, H. G.; Shi, D. X.; Sun, J. T.; Du, S. X.; Liu, F.;Gao, H. J. Adv. Mater. 2009, 21, 2777. doi: 10.1002/adma.200800761(13) Pan, Y.; Zhang, H. G.; Shi, D. X.; Sun, J. T.; Du, S. X.; Liu, F.;Gao, H. J. Adv. Mater. 2009, 21, 2777. doi: 10.1002/adma.200800761

    14. [14]

      (14) Zhang, Y. F.; Gao, T.; Gao, Y. B.; Xie, S. B.; Ji, Q. Q.; Yan, K.;Peng, H. L.; Liu, Z. F. ACS Nano 2011, 5, 4014. doi: 10.1021/nn200573v(14) Zhang, Y. F.; Gao, T.; Gao, Y. B.; Xie, S. B.; Ji, Q. Q.; Yan, K.;Peng, H. L.; Liu, Z. F. ACS Nano 2011, 5, 4014. doi: 10.1021/nn200573v

    15. [15]

      (15) Ishigami, M.; Chen, J. H.; Cullen,W. G.; Fuhrer, M. S.;Williams, E. D. Nano Lett. 2007, 7, 1643. doi: 10.1021/nl070613a(15) Ishigami, M.; Chen, J. H.; Cullen,W. G.; Fuhrer, M. S.;Williams, E. D. Nano Lett. 2007, 7, 1643. doi: 10.1021/nl070613a

    16. [16]

      (16) Xu, K.; Cao, P.; Heath, J. R. Nano Lett. 2009, 9, 4446. doi: 10.1021/nl902729p(16) Xu, K.; Cao, P.; Heath, J. R. Nano Lett. 2009, 9, 4446. doi: 10.1021/nl902729p

    17. [17]

      (17) Yan, K.; Peng, H. L.; Zhou, Y.; Li, H.; Liu, Z. F. Nano Lett.2011, 11, 1106. doi: 10.1021/nl104000b(17) Yan, K.; Peng, H. L.; Zhou, Y.; Li, H.; Liu, Z. F. Nano Lett.2011, 11, 1106. doi: 10.1021/nl104000b

    18. [18]

      (18) Gao, T.; Xie, S. B.; Gao, Y. B.; Liu, M. X.; Chen, Y. B.; Zhang,Y. F.; Liu, Z. F. ACS Nano 2011, 11, 9194.(18) Gao, T.; Xie, S. B.; Gao, Y. B.; Liu, M. X.; Chen, Y. B.; Zhang,Y. F.; Liu, Z. F. ACS Nano 2011, 11, 9194.

    19. [19]

      (19) Liu, N.; Fu, L.; Dai, B. Y.; Yan, K.; Liu, X.; Zhao, R. Q.; Zhang,Y. F.; Liu, Z. F. Nano Lett. 2011, 11, 297. doi: 10.1021/nl103962a(19) Liu, N.; Fu, L.; Dai, B. Y.; Yan, K.; Liu, X.; Zhao, R. Q.; Zhang,Y. F.; Liu, Z. F. Nano Lett. 2011, 11, 297. doi: 10.1021/nl103962a

    20. [20]

      (20) Zhang, Y. F.; Gao, T.; Xie, S. B.; Dai, B. Y.; Gao, Y. B.; Chen, Y.B.; Liu, M. X. Nano Res. 2012, 5, 402. doi: 10.1007/s12274-012-0221-6(20) Zhang, Y. F.; Gao, T.; Xie, S. B.; Dai, B. Y.; Gao, Y. B.; Chen, Y.B.; Liu, M. X. Nano Res. 2012, 5, 402. doi: 10.1007/s12274-012-0221-6

    21. [21]

      (21) Zhao, R. Q.; Zhang, Y. F.; Gao, T.; Gao, Y. B.; Liu, N.; Fu, L.;Liu, Z. F. Nano Res. 2011, 4, 712. doi: 10.1007/s12274-011-0127-8(21) Zhao, R. Q.; Zhang, Y. F.; Gao, T.; Gao, Y. B.; Liu, N.; Fu, L.;Liu, Z. F. Nano Res. 2011, 4, 712. doi: 10.1007/s12274-011-0127-8

    22. [22]

      (22) Meng, L.; Zhang, Y. F.; Yan,W.; Feng, L.; He, L. Dou, R. F.;Nie, J. C. Appl. Phys. Lett. 2012, 100, 091601. doi: 10.1063/1.3691952(22) Meng, L.; Zhang, Y. F.; Yan,W.; Feng, L.; He, L. Dou, R. F.;Nie, J. C. Appl. Phys. Lett. 2012, 100, 091601. doi: 10.1063/1.3691952

    23. [23]

      (23) Li, G. H.; Luican, A.; Lopes dos Santos, J. M. B.; Castro, N. A.H.; Reina, A.; Kong, J.; Andrei, E. Y. Nat. Phys. 2010, 4, 109.(23) Li, G. H.; Luican, A.; Lopes dos Santos, J. M. B.; Castro, N. A.H.; Reina, A.; Kong, J.; Andrei, E. Y. Nat. Phys. 2010, 4, 109.

    24. [24]

      (24) Chen, Z. Y.; Yuan, H. T.; Zhang, Y. F.; Nomura, K.; Gao, T.;Gao, Y. B.; Shimotani, H.; Liu, Z. F.; Iwasa, Y. Nano Lett. 2012,12, 2212. doi: 10.1021/nl204012c(24) Chen, Z. Y.; Yuan, H. T.; Zhang, Y. F.; Nomura, K.; Gao, T.;Gao, Y. B.; Shimotani, H.; Liu, Z. F.; Iwasa, Y. Nano Lett. 2012,12, 2212. doi: 10.1021/nl204012c

    25. [25]

      (25) Gao, T.; Gao, Y. B.; Chang, C. Z.; Chen, Y. B.; Liu, M. X.; Xie,S. B.; He, K.; Ma, X. C.; Zhang, Y. F.; Liu, Z. F. ACS Nano2012, 6, 6562. doi: 10.1021/nn302303n

      (25) Gao, T.; Gao, Y. B.; Chang, C. Z.; Chen, Y. B.; Liu, M. X.; Xie,S. B.; He, K.; Ma, X. C.; Zhang, Y. F.; Liu, Z. F. ACS Nano2012, 6, 6562. doi: 10.1021/nn302303n

  • 加载中
计量
  • PDF下载量:  1591
  • 文章访问数:  2860
  • HTML全文浏览量:  49
文章相关
  • 发布日期:  2012-09-26
  • 收稿日期:  2012-07-19
  • 网络出版日期:  2012-09-06
通讯作者: 陈斌, bchen63@163.com
  • 1. 

    沈阳化工大学材料科学与工程学院 沈阳 110142

  1. 本站搜索
  2. 百度学术搜索
  3. 万方数据库搜索
  4. CNKI搜索

/

返回文章